분류 전체보기 썸네일형 리스트형 부채 증가할 때 자국 화폐 가치를 절하 시키면 유리한 이유? ○ 부채 증가와 환율 하락 : 미국의 국가 부채가 증가하면 일반적으로 달러 가치에 부정적인 영향을 미침.1. 신뢰도 하락: 과도한 부채는 미국 경제의 장기적 건전성에 대한 우려를 불러일으킬 수 있습니다. 이로 인해 국제 투자자들의 신뢰가 떨어지면 달러 자산에 대한 수요가 감소하고, 결과적으로 달러 가치가 하락할 수 있습니다. 2. 통화 공급 증가: 부채를 해결하기 위해 미국 정부가 더 많은 달러를 발행하면, 이는 통화 공급을 증가시켜 인플레이션 압력을 높이고 달러 가치를 떨어뜨릴 수 있습니다. ○ 금리와 환율의 관계 : 부채 증가는 금리 정책에도 영향을 미치며, 이는 다시 환율에 영향을 줌1. 금리 인상: 부채 증가로 인한 인플레이션 우려가 높아지면, 연방준비제도(Fed)가 금리를 인상할 수 있습니다... 더보기 제이알글로벌리츠 보호되어 있는 글입니다. 더보기 EU 금리, 2024년 금리결정 일정 유럽 중앙은행의 기준금리 현황 2024년 금리결정 일정 더보기 프로텍 - 디스펜서, 다이본더 (반도체 패키지 공정 필요 장비 제조) 보호되어 있는 글입니다. 더보기 원자력 발전 - 함께배우기. 염승환 이사 보호되어 있는 글입니다. 더보기 와이씨 - 웨이퍼 테스터 24.08.16 현대차증권. 박준영. "4분기 HBM 테스터 납품 시작" - 디램 및 낸드용 테스터를 국내 메모리 메이커에 공급하는 기업 (디램용 : MT6133, 낸드용 : MT6122) - 최근 고객사의 HBM용 테스터 퀄 통과, 금년 4분기부터 MT8311 공급 계획 - 동사는 어드반테스트가 독점하고 있던 HBM용 테스터 시장 이원화하며 25년에 큰폭 성장 예상 (최근 동사 : 어드반테스트 HBM용 테스터 납품 비중 = 4 : 6 ) 더보기 번인 테스터 번인 테스터(Burn-in Tester)는 반도체 테스트 공정에서 중요한 역할을 하는 장비입니다. 반도체 소자의 신뢰성을 높이기 위해 사용되며, 주로 소자의 초기 고장(failure)을 조기에 발견하고 제거하기 위해 설계되었습니다. 번인 테스트는 반도체 소자를 특정 온도와 전압 조건에서 일정 시간 동안 작동시켜, 잠재적인 결함을 조기에 발견하는 과정입니다. ○ 번인 테스트의 목적 1. 신뢰성 향상: 번인 테스트는 제품의 초기 고장을 줄여 신뢰성을 높이는 데 기여합니다. 이는 반도체 소자가 실제 사용 환경에서 안정적으로 작동할 수 있도록 보장합니다. 2. 결함 발견: 소자 내부의 잠재적인 결함을 조기에 발견하여, 고객에게 전달되기 전에 불량품을 제거할 수 있습니다. 번인 테스터의 작동 원리 3. 환경.. 더보기 테스트 소켓 : 포고 & 실리콘 러버 1. 핀 타입 소켓 : 다품종 소량생산에 적합, 핀 수가 늘어날수록 원가가 증가, 신호 전달 속도가 느림1) 핀 타입 소켓은 여러 아이디어를 실험하며, 실험용으로 소량 생산되는 반도체를 테스트하기 때문에 굳이 빠른 전기 신호 전달이 필요치 않은 R&D향 테스트 수요에 대응하기 유리2) 동 소켓은 주로 비메모리 반도체를 설계하는 팹리스향 R&D 매출이 많음을 짐작할 수 있음 참고로 동 소켓은 핀 수가 적은 제품의 양산에도 활용됨3) 핀 타입 소켓은 고정판에 핀을 배열하는 방식으로 제조4) 핀 타입 소켓은 실리콘 러버와 같은 대량 생산용 금형을 필요로 하지 않는 까닭에 소량 생산됨과 동시에 고정비 지출 부분이 적으므로 다품종 생산이 가능5) 핀 타입 소켓은 금속 소재이기 때문에 러버 대비.. 더보기 이전 1 2 3 4 5 6 7 ··· 157 다음
