본문 바로가기

전체 글

와이씨 - 웨이퍼 테스터 24.08.16 현대차증권. 박준영. "4분기 HBM 테스터 납품 시작" - 디램 및 낸드용 테스터를 국내 메모리 메이커에 공급하는 기업 (디램용 : MT6133, 낸드용 : MT6122) - 최근 고객사의 HBM용 테스터 퀄 통과, 금년 4분기부터 MT8311 공급 계획 - 동사는 어드반테스트가 독점하고 있던 HBM용 테스터 시장 이원화하며 25년에 큰폭 성장 예상   (최근 동사 : 어드반테스트 HBM용 테스터 납품 비중 = 4 : 6 ) 더보기
번인 테스터 번인 테스터(Burn-in Tester)는 반도체 테스트 공정에서 중요한 역할을 하는 장비입니다. 반도체 소자의 신뢰성을 높이기 위해 사용되며, 주로 소자의 초기 고장(failure)을 조기에 발견하고 제거하기 위해 설계되었습니다. 번인 테스트는 반도체 소자를 특정 온도와 전압 조건에서 일정 시간 동안 작동시켜, 잠재적인 결함을 조기에 발견하는 과정입니다.  ○ 번인 테스트의 목적 1. 신뢰성 향상: 번인 테스트는 제품의 초기 고장을 줄여 신뢰성을 높이는 데 기여합니다. 이는 반도체 소자가 실제 사용 환경에서 안정적으로 작동할 수 있도록 보장합니다.  2. 결함 발견: 소자 내부의 잠재적인 결함을 조기에 발견하여, 고객에게 전달되기 전에 불량품을 제거할 수 있습니다. 번인 테스터의 작동 원리  3. 환경.. 더보기
테스트 소켓 : 포고 & 실리콘 러버 1. 핀 타입 소켓 : 다품종 소량생산에 적합, 핀 수가 늘어날수록 원가가 증가, 신호 전달 속도가 느림1) 핀 타입 소켓은 여러 아이디어를 실험하며, 실험용으로 소량 생산되는 반도체를 테스트하기 때문에     굳이 빠른 전기 신호 전달이 필요치 않은 R&D향 테스트 수요에 대응하기 유리2) 동 소켓은 주로 비메모리 반도체를 설계하는 팹리스향 R&D 매출이 많음을 짐작할 수 있음     참고로 동 소켓은 핀 수가 적은 제품의 양산에도 활용됨3) 핀 타입 소켓은 고정판에 핀을 배열하는 방식으로 제조4) 핀 타입 소켓은 실리콘 러버와 같은 대량 생산용 금형을 필요로 하지 않는 까닭에    소량 생산됨과 동시에 고정비 지출 부분이 적으므로 다품종 생산이 가능5) 핀 타입 소켓은 금속 소재이기 때문에 러버 대비.. 더보기
스페이스 트랜스포머 (STF) 세라믹 스페이스 트랜스포머(Ceramic Space Transformer, CST)는 프로브 카드의 중요한 구성 요소로, 반도체 웨이퍼 테스트 공정에서 매우 중요한 역할을 합니다. 세라믹 스페이스 트랜스포머는 프로브 카드 내에서 미세한 전기 신호를 안정적으로 전달하고, 프로브 핀들이 웨이퍼 상의 다이와 정확히 접촉할 수 있도록 도와주는 장치입니다.세라믹 스페이스 트랜스포머의 주요 기능전기 신호의 변환 및 전달:세라믹 스페이스 트랜스포머는 테스트 장비에서 발생한 전기 신호를 웨이퍼 상의 다이로 전달하는 역할을 합니다. 이 과정에서 신호를 최적화하여 안정적으로 전달할 수 있도록 신호의 배치를 조정하거나, 패턴을 변환합니다.미세한 회로를 가지고 있어 고속, 고주파의 신호를 정확하게 전달할 수 있습니다.핀의 위.. 더보기
프로버 와 웨이퍼 테스터 반도체 장비 중 웨이퍼 프로버(Wafer Prober)와 웨이퍼 테스터(Wafer Tester)는 모두 반도체 제조 공정에서 웨이퍼의 성능과 품질을 검증하는 데 사용되지만, 기능과 역할이 다릅니다.1. 웨이퍼 프로버 (Wafer Prober)기능: 웨이퍼 프로버는 웨이퍼 상의 개별 다이(Die)에 프로브 핀(Probing Pin)을 접촉시켜 전기적으로 신호를 주고받으며, 테스트가 필요한 위치에 정밀하게 접근하여 연결하는 역할을 합니다. 프로버는 웨이퍼 상의 각 다이에 대한 전기적 테스트를 위한 접점을 제공하며, 이 과정에서 외부 테스터 장비와 협력하여 특정 회로가 정상적으로 작동하는지 확인합니다.주요 역할: 웨이퍼 프로버는 주로 다이 수준에서 전기적 특성을 측정하고, 결함이 있는 다이를 식별하는 데 사용.. 더보기
테스트 핸들러 (링크)  반도체 테스트 공정 정리 (tistory.com) 더보기
반도체 테스트 공정 정리 참고 : Part9. 소켓과 검사공정 (tistory.com) 염승환 이사 유튜브 내용1. 반도체 상태별 테스트 단계  2. 반도체 테스트 공정 정리가. (장비) 웨이퍼 테스터 : 프로버 와 웨이퍼 테스터 (tistory.com)나. (장비) Prober : 프로버 와 웨이퍼 테스터 (tistory.com)  - (부품) 프로브카드 : 프로브카드 (tistory.com)  - (부품) SFT기판 : 스페이스 트랜스포머 (STF) (tistory.com)다. (장비) 번인테스터  - (부품) 번인소켓라. (장비) 쏘터마. (장비) 복합번인테스터바. (장비) 파이널테스터사. (장비) 핸들러 : 테스트 핸들러 (tistory.com)아. (장비) 모듈 테스터 / 시스템레벨 테스터(SLT)자. (장비) SSD테.. 더보기
반도체 테스트 소켓 산업. LS증권 리포트 보호되어 있는 글입니다. 더보기

티스토리툴바