반도체 테스트 공정 정리

참고 : Part9. 소켓과 검사공정 (tistory.com) 염승환 이사 유튜브 내용

1. 반도체 상태별 테스트 단계

출처 : SK하이닉스

 

 

2. 반도체 테스트 공정 정리

가. (장비) 웨이퍼 테스터 : 프로버 와 웨이퍼 테스터 (tistory.com)

나. (장비) Prober : 프로버 와 웨이퍼 테스터 (tistory.com)

  - (부품) 프로브카드 : 프로브카드 (tistory.com)

  - (부품) SFT기판 : 스페이스 트랜스포머 (STF) (tistory.com)

다. (장비) 번인테스터

  - (부품) 번인소켓

라. (장비) 쏘터

마. (장비) 복합번인테스터

바. (장비) 파이널테스터

사. (장비) 핸들러 : 테스트 핸들러 (tistory.com)

아. (장비) 모듈 테스터 / 시스템레벨 테스터(SLT)

자. (장비) SSD테스터 (모듈테스터 내 포함)

차. (부품) 테스트 소켓 (실리콘러버, 포고)